BT4560電(dian)(dian)(dian)池阻(zu)(zu)(zu)抗測(ce)(ce)(ce)試(shi)儀產(chan)品概(gai)述 鋰電(dian)(dian)(dian)池的可靠性判斷 10秒 ● 低頻AC-IR*測(ce)(ce)(ce)量(liang)，測(ce)(ce)(ce)量(liang)時間(jian)短 *使用1Hz以下的低頻測(ce)(ce)(ce)量(liang)內(nei)阻(zu)(zu)(zu)的話不需要(yao)充放電(dian)(dian)(dian) ● 也能精確*測(ce)(ce)(ce)量(liang)低阻(zu)(zu)(zu)電(dian)(dian)(dian)池 *改善S/N比，在3mΩ量(liang)程下測(ce)(ce)(ce)試(shi)電(dian)(dian)(dian)流(liu)為1.5A ● 電(dian)(dian)(dian)路結(jie)構較難受(shou)到(dao)接觸(chu)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)和(he)布線(xian)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)的影響，實現穩定測(ce)(ce)(ce)量(liang) ● 同時測(ce)(ce)(ce)量(liang)阻(zu)(zu)(zu)抗和(he)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)
BT3563電(dian)池(chi)測試儀產品(pin)概述(shu) ● 可(ke)直接測量高達300V的電(dian)壓（BT3563） ● 用于(yu)檢(jian)(jian)查(cha)高電(dian)壓電(dian)池(chi)組(zu)/電(dian)池(chi)單元的生產線(xian) ● 大型（低(di)電(dian)阻）電(dian)池(chi)單元檢(jian)(jian)查(cha) ● 多種接口可(ke)用于(yu)高速自動化產線(xian)中(zhong)
BT3562電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)測試(shi)儀產(chan)品(pin)概述 大(da)型(xing)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)單(dan)(dan)元&高(gao)壓(ya)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)檢查(cha)的(de)高(gao)速電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)測試(shi)儀 ● 可直接(jie)測量高(gao)達300V的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)（BT3563） ● 用(yong)于檢查(cha)高(gao)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)組/電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)單(dan)(dan)元的(de)生產(chan)線 ● 大(da)型(xing)（低電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)）電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)單(dan)(dan)元檢查(cha) ● 多種接(jie)口可用(yong)于高(gao)速自動(dong)化(hua)產(chan)線中
BT3554電(dian)池測(ce)(ce)試儀(yi)產品概述 更加快速(su)的判斷(duan)(duan)鉛蓄電(dian)池劣(lie)化情況 ● 從測(ce)(ce)量到保(bao)存較快2秒，和舊機型(xing)（3554）相(xiang)比縮短了60% ● 測(ce)(ce)量內部電(dian)阻(zu)/電(dian)壓(ya)，并(bing)瞬間(jian)判斷(duan)(duan)劣(lie)化狀態（合格、警告(gao)、不合格） ● 搭載(zai)降噪技術，提(ti)高抗干(gan)擾(rao)性 ● 通過Bluetooth®無線(xian)技術，實時發送并(bing)顯示測(ce)(ce)量值(zhi)（BT3554-01）
3561電(dian)(dian)池測(ce)試儀產品概(gai)述(shu) 測(ce)量(liang)鋰電(dian)(dian)池電(dian)(dian)壓和內阻(zu) ● 高精度:電(dian)(dian)阻(zu)±0.5% rdg. ±5dgt., 電(dian)(dian)壓±0.01% rdg. ±3dgt. ● 高分辨率:電(dian)(dian)阻(zu)0.01mΩ（300mΩ量(liang)程）; 電(dian)(dian)壓0.1mV（20V量(liang)程） ● 高速10ms以內同時測(ce)量(liang)內阻(zu)和電(dian)(dian)壓 ● 大可以統(tong)計30000個數(shu)據,有利于工程管(guan)理(li),品質(zhi)管(guan)理(li)
3555電(dian)池(chi)測試儀產品(pin)概述 立(li)即(ji)測定電(dian)池(chi)劣化情況:小型二次電(dian)池(chi)用(yong) ● 通(tong)過(guo)對(dui)電(dian)池(chi)的內電(dian)阻和內電(dian)壓的測量(liang) ● 以合(he)(he)格(ge)（pass），警(jing)告（warning）及不合(he)(he)格(ge)（fail）三段指(zhi)示 ● 使本(ben)系列產品(pin)能夠立(li)即(ji)得到電(dian)池(chi)狀態的結(jie)果
IM3536LCR測(ce)試儀產品概述(shu) DC，4Hz~8MHz測(ce)量(liang)(liang)頻(pin)(pin)率，今后的標(biao)桿(gan)產品 ● 測(ce)量(liang)(liang)頻(pin)(pin)率DC，4Hz~8MHz ● 測(ce)量(liang)(liang)時間：較快1ms ● 基本(ben)精(jing)度：±0.05% rdg ● 1mΩ以上的精(jing)度保(bao)證范(fan)圍(wei)，也可安心進行低阻測(ce)量(liang)(liang) ● 可內部發生(sheng)DC偏壓測(ce)量(liang)(liang) ● 從研發到生(sheng)產線活(huo)躍(yue)在(zai)各種(zhong)領域(yu)中(zhong)
IM3533LCR測試儀(yi)產(chan)品概述 應用于生產(chan)線(xian)和(he)自動化測試領域的理想選擇 ● 基(ji)本精度±0.05％，測量(liang)范圍廣(guang)（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA） ● 在比如C-D和(he)ESR這樣的混(hun)合測量(liang)條(tiao)件下(xia)，可以(yi)以(yi)往產(chan)品10倍的速(su)度不間(jian)斷測試。 ● 內(nei)置比較器和(he)BIN功能 ● 2ms的快速(su)測試時間(jian)
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