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產品列表PRODUCTS LIST

IM3533LCR測試儀

簡要描述：

IM3533LCR測試儀產品概述

應用于生產線和自動化測試領域的理想選擇
● 基本精度±0.05％，測量范圍廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA）
● 在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，可以以往產品10倍的速度不間斷測試。
● 內置比較器和BIN功能
● 2ms的快速測試時(shi)間

更(geng)新時間：2018-07-26

分(fen)享到： 1

詳細介紹

IM3533LCR測試儀產品特點

LCR測試儀IM3523測量方法：連續測量不同條件

在(zai)電容的測量(liang)條件(jian)(jian)中希望以120Hz測量(liang)C-D。希望以100kHz測量(liang)ESR。這時，使用1臺告訴連續測量(liang)不同條件(jian)(jian)。

LCR測試(shi)儀IM3523測量(liang)方法：順(shun)暢(chang)的進(jin)行生產線的設置更改(gai)的面板讀取功能

為了使用1臺LCR測試儀(yi)測量多種產品(pin)，要求高(gao)效率的(de)更改設置。
IM3523的面(mian)板保存功能(neng)更(geng)，最多保存60組測(ce)(ce)量(liang)條件，還能(neng)保存128個開路(lu)/短(duan)路(lu)補償和線長(chang)補償等的補償值。使用面(mian)板功能(neng)讀取(qu)所保存的測(ce)(ce)量(liang)條件。除了手(shou)動讀取(qu)以(yi)外(wai)，可以(yi)使用外(wai)部控制端口控制面(mian)板編號的讀取(qu)，因此能(neng)縮短(duan)構筑(zhu)自動化檢查產線的時間(jian)。

可靠(kao)的產(chan)線檢(jian)查：接觸檢(jian)查功能

檢查(cha)4端子測(ce)量時樣品間的接觸不(bu)良。
測(ce)量LPOT?LCUR間和HPOT?HCUR間(jian)的(de)接觸電(dian)阻，如果在所設置的(de)閾值以上時則顯(xian)示錯誤。

IM3533LCR測試儀選型指南

測量模式(shi)	LCR,連續測試
測(ce)量參數	Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC電阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q
測量(liang)量(liang)程	100mΩ～100MΩ,10個量(liang)程(cheng)(所有參數根據Z定義)
可顯示(shi)量程	Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: ± (0.000000 [單位]* ～9.99999G [單位])(*為zuigao分辯率時的顯示位數）只(zhi)有 Z和Y顯(xian)示真有效(xiao)值(zhi) θ: ± (0.000°～999.999°), D: ± (0.00000～9.99999) Q: ± (0.00～99999.9), Δ%: ± (0.0000%～999.999%)
基本精度	Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
測(ce)量頻率	40Hz ～200kHz (1mHz ～10Hz)
測量(liang)信號(hao)電平	正常模式 V模(mo)(mo)式，CV模(mo)(mo)式: 5mV～5Vrms,1mVrms CC模(mo)式: 10μA～50mArms,10μArms
輸出(chu)阻抗	正常模式：100Ω
顯示	單色LCD
測量時間	2ms(1kHz,FAST,代表值)
功能	比較器，分類測量(BIN功(gong)能)，面(mian)板(ban)讀取/保存、存儲功(gong)能
接口	EXT I/O(處理器)，USB通信(高(gao)速) 選件：RS-232C,GP-IB,LAN任(ren)選一
電源	100～240V AC，50/60Hz，最大50VA
尺寸(cun)及重量	260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg
附件(jian)	電源(yuan)線×1，使(shi)用說(shuo)明書×1，CD-R(包括PC指(zhi)令和樣本軟(ruan)件)×1