IM3523LCR測(ce)(ce)(ce)試儀產品(pin)概述 應用于生產線和自動(dong)化測(ce)(ce)(ce)試領域的(de)理想選擇 ● 基本精度±0.05％，測(ce)(ce)(ce)量范(fan)圍廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA） ● 在(zai)比(bi)如C-D和ESR這(zhe)樣(yang)的(de)混合測(ce)(ce)(ce)量條件下(xia)，可以以往產品(pin)10倍的(de)速度不間(jian)斷測(ce)(ce)(ce)試。 ● 內(nei)置比(bi)較器(qi)和BIN功能 ● 2ms的(de)快(kuai)速測(ce)(ce)(ce)試時間(jian)
3511-50LCR測(ce)試儀產品(pin)概述(shu) 精巧，非常專(zhuan)業，5ms快速(su)測(ce)量LCR ● 高速(su)測(ce)量：5ms（1kHz）或(huo)13ms（120Hz） ● 高精度： ± 0.08% ● 內置(zhi)比較器
3506-10C測(ce)(ce)試儀產品概述(shu) 對(dui)應(ying)1MHz測(ce)(ce)試, 低(di)容(rong)量(liang),高精度,高速(su)測(ce)(ce)試 ● 模擬測(ce)(ce)量(liang)時間0.6ms（1MHz）的(de)高速(su)測(ce)(ce)量(liang) ● 提高了抗干擾性，在產線的(de)上(shang)也能(neng)實現高反復精度 ● 1kHz、1MHz測(ce)(ce)量(liang)下，低(di)電(dian)容(rong)的(de)貼片(pian)時可穩定測(ce)(ce)量(liang) ● 根(gen)據BIN的(de)測(ce)(ce)定區分(fen)容(rong)量(liang)
3504-60C測(ce)(ce)(ce)試(shi)儀產品概述(shu) 封裝(zhuang)機(ji)、分選(xuan)機(ji)、電(dian)容器的合格與否的判(pan)斷(duan)和等級分類(lei)等 ● 高(gao)速測(ce)(ce)(ce)量(liang)2ms ● 能根據(ju)C 和D （損耗(hao)系數*2）的測(ce)(ce)(ce)量(liang)值(zhi)，進(jin)行(xing)被(bei)測(ce)(ce)(ce)物合格與否的判(pan)斷(duan) ● 對應(ying)測(ce)(ce)(ce)試(shi)線(xian)，比較(jiao)器功(gong)能/觸發輸出(chu)功(gong)能 ● 3504-60/-50用BIN的分選(xuan)接口(kou)進(jin)行(xing)被(bei)測(ce)(ce)(ce)物體(ti)的測(ce)(ce)(ce)試(shi) ● 3504-40記錄工具(ju)，實現高(gao)速/低(di)成本(ben)的測(ce)(ce)(ce)試(shi) ● 查(cha)出(chu)全機(ji)測(ce)(ce)(ce)量(liang)中(zhong)的接觸錯誤，提高(gao)成品率
3504-50C測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)儀產(chan)品(pin)概述 封裝機、分選機、電(dian)容器的合(he)格(ge)(ge)與(yu)否的判斷(duan)和(he)(he)等級分類等 ● 高(gao)速(su)測(ce)(ce)(ce)量2ms ● 能(neng)根據C 和(he)(he)D （損耗系數*2）的測(ce)(ce)(ce)量值，進行被測(ce)(ce)(ce)物合(he)格(ge)(ge)與(yu)否的判斷(duan) ● 對應(ying)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)線，比較器功(gong)能(neng)/觸發輸出功(gong)能(neng) ● 3504-60/-50用BIN的分選接口(kou)進行被測(ce)(ce)(ce)物體的測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi) ● 3504-40記錄工具，實現高(gao)速(su)/低成本的測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)
3504-40C測(ce)試儀產(chan)品概述 封裝機(ji)、分選(xuan)機(ji)、電容(rong)器的(de)合(he)格與否的(de)判斷(duan)和(he)等(deng)級分類等(deng) ● 高(gao)速測(ce)量2ms ● 能根(gen)據C 和(he)D （損(sun)耗系數*2）的(de)測(ce)量值，進(jin)行(xing)被測(ce)物合(he)格與否的(de)判斷(duan) ● 對應測(ce)試線，比較(jiao)器功能/觸發輸出功能 ● 3504-60/-50用(yong)BIN的(de)分選(xuan)接口進(jin)行(xing)被測(ce)物體的(de)測(ce)試 ● 3504-40記錄(lu)工(gong)具(ju)，實現高(gao)速/低成本的(de)測(ce)試 ● 查出全機(ji)測(ce)量中的(de)接觸錯誤，提高(gao)成品率
在線客服