IM7587阻抗分析(xi)儀產品概述(shu) 可(ke)信(xin)賴的機型3GHz ● 測試電壓測量(liang)(liang)頻率(lv)：1MHz~3GHz ● 測量(liang)(liang)時間(jian)：較快0.5ms（模(mo)擬測量(liang)(liang)時間(jian)） ● 測量(liang)(liang)值偏差：0.07%（測量(liang)(liang)頻率(lv)1GHz時的代表值） ● 基(ji)本精度(du)：±0.65% rdg. ● 緊湊主機僅(jin)機架一半大(da)小，測試頭尺寸僅(jin)手掌(zhang)大(da)小 ● 豐富的接(jie)觸檢查（DCR測量(liang)(liang)、Hi-Z篩選、波形判定） ● 分析(xi)模(mo)式下(xia)可(ke)以邊掃描測量(liang)(liang)頻率(lv)、測量(liang)(liang)信(xin)號(hao)電平邊
IM7585阻抗分(fen)析儀產(chan)品概述 高(gao)速、高(gao)穩定(ding)性(xing)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)，提高(gao)生產(chan)量(liang)(liang)！測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)時(shi)(shi)間：較(jiao)快(kuai)0.5ms，測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)值偏差0.07% ● 測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)頻率(lv)：1MHz~1.3GHz ● 測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)時(shi)(shi)間：較(jiao)快(kuai)0.5ms（模擬測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)時(shi)(shi)間） ● 測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)值偏差：0.07%（測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)頻率(lv)1GHz時(shi)(shi)的代表值） ● 基本(ben)精(jing)度：±0.65% rdg. ● 緊湊主機(ji)僅機(ji)架一半大小，測(ce)(ce)(ce)試頭僅手掌(zhang)大小 ● 豐(feng)富的接觸檢(jian)查功能（DCR測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)、Hi-Z篩(shai)選、波形(xing)判定(ding)）
IM7583阻抗分析儀(yi)產(chan)品概述 高(gao)(gao)速(su)、高(gao)(gao)穩定性測(ce)(ce)(ce)量，提高(gao)(gao)生產(chan)量！測(ce)(ce)(ce)量時(shi)間：較快(kuai)0.5ms ● 測(ce)(ce)(ce)量頻(pin)率(lv)：1MHz~600MHz ● 測(ce)(ce)(ce)量時(shi)間：較快(kuai)0.5ms（模擬測(ce)(ce)(ce)量時(shi)間） ● 基本精度：±0.65% rdg. ● 緊湊主機(ji)僅(jin)機(ji)架一(yi)半大(da)(da)小，測(ce)(ce)(ce)試(shi)頭僅(jin)手掌大(da)(da)小 ● 豐(feng)富(fu)的(de)接觸檢查功(gong)能(neng)（DCR測(ce)(ce)(ce)量、Hi-Z篩選、波形判定） ● 使(shi)用分析功(gong)能(neng)在掃描測(ce)(ce)(ce)量頻(pin)率(lv)、測(ce)(ce)(ce)量信號(hao)電平的(de)同時(shi)進(jin)行測(ce)(ce)(ce)量
IM7581阻抗分析(xi)儀產品概述 較快0.5ms，覆(fu)蓋100kHz~300MHz的(de)(de)低頻(pin) ● 緊湊(cou)主(zhu)機僅機架一(yi)半大小、測(ce)(ce)試頭僅手掌大小 ● 豐富的(de)(de)接(jie)觸檢查功(gong)能(neng)（DCR測(ce)(ce)量(liang)(liang)、Hi-Z篩選、波(bo)形(xing)判定） ● 使(shi)用分析(xi)功(gong)能(neng)在掃描測(ce)(ce)量(liang)(liang)頻(pin)率、測(ce)(ce)量(liang)(liang)信號電平的(de)(de)同(tong)時進行測(ce)(ce)量(liang)(liang)
IM7580A阻抗分析儀產(chan)品概述 較快(kuai)0.5ms，高(gao)速、高(gao)穩定(ding)測(ce)(ce)量(liang)(liang)，節省空間的(de)半(ban)個機(ji)(ji)架大(da)小(xiao) ● 測(ce)(ce)量(liang)(liang)頻率(lv)1MHz~300MHz ● 測(ce)(ce)量(liang)(liang)時間：較快(kuai)0.5ms ● 基本(ben)精(jing)度±0.72%rdg. ● 緊湊(cou)主機(ji)(ji)僅機(ji)(ji)架一半(ban)大(da)小(xiao)、測(ce)(ce)試(shi)頭僅手(shou)掌(zhang)大(da)小(xiao) ● 豐富的(de)接(jie)觸檢查功能（DCR測(ce)(ce)量(liang)(liang)、Hi-Z篩(shai)選、波形判定(ding)） ● 使用(yong)分析功能在掃描(miao)測(ce)(ce)量(liang)(liang)頻率(lv)、測(ce)(ce)量(liang)(liang)信號電(dian)平的(de)同時進行測(ce)(ce)量(liang)(liang)
IM3590化學(xue)阻(zu)抗分析儀產品概述 用于(yu)測(ce)(ce)(ce)(ce)量電(dian)氣化學(xue)零(ling)件(jian)和(he)材料/電(dian)池/EDLC（電(dian)氣雙(shuang)層電(dian)容） ● 適用于(yu)離子運動和(he)溶液電(dian)阻(zu)測(ce)(ce)(ce)(ce)量，1mHz ～ 200kHz的(de)(de)寬范圍信號(hao)源 ● 1臺機(ji)器(qi)即可實現(xian)LCR測(ce)(ce)(ce)(ce)量、掃(sao)(sao)描測(ce)(ce)(ce)(ce)量的(de)(de)連續測(ce)(ce)(ce)(ce)量和(he)高(gao)速檢查 ● 可測(ce)(ce)(ce)(ce)量電(dian)池的(de)(de)無負載狀(zhuang)態產生的(de)(de)內部電(dian)阻(zu) ● 較快2ms的(de)(de)高(gao)速測(ce)(ce)(ce)(ce)量，實現(xian)掃(sao)(sao)描測(ce)(ce)(ce)(ce)量的(de)(de)高(gao)速化 ● 基本精(jing)度(du)±0.05%，零(ling)件(jian)檢查到研究開發測(ce)(ce)(ce)(ce)量均可對應
IM3570阻抗分(fen)析儀產品(pin)概述 1臺(tai)(tai)儀器(qi)實現不(bu)同測(ce)(ce)(ce)量(liang)條件下(xia)的(de)(de)(de)(de)高(gao)速(su)檢(jian)查(cha) ● 1臺(tai)(tai)儀器(qi)實現LCR測(ce)(ce)(ce)量(liang)、DCR測(ce)(ce)(ce)量(liang)、掃描測(ce)(ce)(ce)量(liang)等的(de)(de)(de)(de)連續測(ce)(ce)(ce)量(liang)和高(gao)速(su)檢(jian)查(cha) ● LCR模(mo)式下(xia)較快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的(de)(de)(de)(de)高(gao)速(su)測(ce)(ce)(ce)量(liang) ● 基本精(jing)度±0.08%的(de)(de)(de)(de)高(gao)精(jing)度測(ce)(ce)(ce)量(liang) ● 適用于壓電元件的(de)(de)(de)(de)共(gong)振特(te)性檢(jian)查(cha)、功能性高(gao)分(fen)子電容的(de)(de)(de)(de)C-D和低(di)ESR測(ce)(ce)(ce)量(liang)，電感器(qi)（線圈、變壓器(qi)）的(de)(de)(de)(de)DCR和L-Q的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)量(liang)
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