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在DC耐壓測試時,為何需要緩升時間?
點擊次數:1323 更新時間:2022-07-14

    安規測試(shi)儀用(yong)于高電(dian)壓元(yuan)、器件的(de)耐壓測量(liang)試(shi)驗(用(yong)交、直流(liu)(liu)耐壓儀),如硅堆等。主(zhu)(zhu)要是用(yong)來檢測產品是否漏電(dian)、是否接地(di)良好(hao)、會不會傷害(hai)人身(shen)安全的(de)專(zhuan)用(yong),主(zhu)(zhu)要檢測項目有電(dian)壓、泄漏電(dian)流(liu)(liu)、絕緣電(dian)阻和接地(di)電(dian)阻。

    DC耐壓測試(shi)通(tong)常會需(xu)要(yao)加上緩升(sheng)時(shi)間(jian)以及(ji)放電(dian)時(shi)間(jian),因為大多的(de)DUT具有電(dian)容性而(er)(er)會導(dao)致充(chong)電(dian)電(dian)流(liu)產生。為了使充(chong)電(dian)變(bian)位電(dian)流(liu)(charge current)穩(wen)定,需(xu)要(yao)緩升(sheng)時(shi)間(jian)來緩沖,才不會因充(chong)電(dian)電(dian)流(liu)而(er)(er)導(dao)致漏電(dian)流(liu)過高,進(jin)而(er)(er)判斷為不良(liang)品(FAIL)。