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5253A通信綜合測試儀

簡要描述:

產品綜述
       5253A通(tong)信(xin)(xin)綜合測試儀單臺儀表(biao)具備(bei)通(tong)信(xin)(xin)矢量(liang)信(xin)(xin)號及(ji)一(yi)般頻譜(pu)分析、通(tong)信(xin)(xin)矢量(liang)信(xin)(xin)號和(he)CW發生等功能,是一(yi)款高性(xing)價比的(de)(de)通(tong)信(xin)(xin)測試儀表(biao),可應用于各類射頻電子(zi)設備(bei)或部(bu)件的(de)(de)科(ke)研、生產、計(ji)量(liang)、維修,特別適合于教(jiao)學應用。

更新(xin)時(shi)間(jian):2018-11-12

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5253A通信綜合測試儀

產品綜述

       5253A通(tong)(tong)信綜合測試儀單臺儀表(biao)具備(bei)(bei)通(tong)(tong)信矢(shi)量信號及一般頻譜分析、通(tong)(tong)信矢(shi)量信號和CW發生等功能,是一款高性價(jia)比的通(tong)(tong)信測試儀表(biao),可應(ying)用于各類(lei)射頻電子設備(bei)(bei)或部件的科研、生產、計量、維修,特別適合于教學應(ying)用。

       5253A采(cai)用(yong)寬(kuan)頻帶矢(shi)量信號(hao)(hao)(hao)接收與下變頻設計制造(zao)技術,解決了寬(kuan)帶通(tong)信矢(shi)量信號(hao)(hao)(hao)接收分(fen)析難題,實(shi)現了9kHz~3GHz傳統掃頻頻譜分(fen)析、同時(shi)還完成(cheng)通(tong)用(yong)矢(shi)量調(diao)(diao)(diao)制信號(hao)(hao)(hao)解調(diao)(diao)(diao)分(fen)析、GSM和TD-SCDMA標準制式(shi)信號(hao)(hao)(hao)分(fen)析等多種分(fen)析測(ce)量功(gong)(gong)能;采(cai)用(yong)小數分(fen)頻合成(cheng)技術和寬(kuan)帶數字調(diao)(diao)(diao)制技術,實(shi)現了250kHz~3GHz CW信號(hao)(hao)(hao)、通(tong)用(yong)矢(shi)量調(diao)(diao)(diao)制信號(hao)(hao)(hao)、TD-SCDMA、GSM等多種標準制式(shi)信號(hao)(hao)(hao)發生功(gong)(gong)能。

功能特點

大動態范(fan)圍(wei)、高精度的射頻信(xin)號(hao)頻譜測量

多種(zhong)數字調制格式(shi)矢量信號(hao)、多種(zhong)制式(shi)通信信號(hao)的準確(que)分析

實時、可變的多種(zhong)數字調制(zhi)格(ge)式的矢量信號發生

多種(zhong)制(zhi)式的通(tong)信信號(hao)發生

豐富的程(cheng)控接口,可方便地(di)實現遠(yuan)程(cheng)控制及網絡升級功(gong)能

多功能(neng)一體(ti)化(hua)設計,便于用(yong)戶使用(yong)

  •  

GSM、TD-SCDMA等標準制式(shi)通信信號發生和分析功能,能滿足(zu)各種(zhong)制式(shi)終端測試(shi)

高(gao)質量(liang)的信號(hao)發(fa)生(sheng)和精(jing)確EVM分析

大動(dong)態范圍(wei)和高靈(ling)敏度的信(xin)號接收能(neng)力

提供精準的寬帶時隙信號發射

多參數、多域同步(bu)關(guan)聯分析:射頻信號功(gong)率測試、頻譜發射模(mo)板測試、鄰道泄漏抑制比、信號質量等多域測試功(gong)能

多種(zhong)數字(zi)調(diao)制格式的矢量(liang)信號(hao)發生和分析

高精度(du)的射(she)頻信號測量能力

實時、可變的數字調制(zhi)格(ge)式(shi)可按用戶(hu)需求設置

-110~+10 dBm大(da)動態范圍(wei)、高功率精度的射頻信號輸出

輕(qing)便小(xiao)巧的現場安(an)裝和(he)維護工具

體貼入(ru)微的菜(cai)單,人性(xing)化交互(hu)式操(cao)作界面

/英文操(cao)作界面,TFT真彩(cai)液(ye)晶顯(xian)示

豐富的程(cheng)(cheng)控(kong)接口,可自由選擇,方便用戶實現(xian)遠程(cheng)(cheng)控(kong)制(zhi)及網絡升級(ji)

量身(shen)定做的功能,夢寐以(yi)求的價(jia)格

  •  

高性價比測(ce)試(shi)儀器滿足各類(lei)電子設備、終端、模塊(kuai)、元器件的測(ce)試(shi)需(xu)求(qiu)

高質量的測量特性

 典型情況下顯(xian)示平(ping)均噪聲電平(ping)為-120dBm(分辨率帶寬為10Hz),滿(man)足微弱信號的可靠檢測,具有大動態范圍,可順利的完成(cheng)大功率信號的測量任務。

內置多種數字調(diao)制格式(shi)分析

       內置BPSK、QPSK、OQPSK、8PSK、16QAM、32QAM、64QAM、MSK、2FSK數字(zi)調制格式分(fen)析模(mo)塊,碼(ma)元(yuan)速(su)率1kHz~1MHz,可滿足用戶移動通信終端或設(she)備高質量測試,提供全面的(de)解決手段。

內(nei)置多種標準制式(shi)信號分析

       內(nei)置GSM和TD-SCDMA等(deng)標準制式信號分(fen)析模塊,具有(you)射(she)頻(pin)(pin)信號功率測(ce)試、頻(pin)(pin)譜(pu)發(fa)射(she)模板測(ce)試、鄰道(dao)泄(xie)漏抑(yi)制比、信號質(zhi)量等(deng)多域測(ce)試功能,可滿足(zu)用戶(hu)移動通(tong)信終(zhong)端或(huo)設備(bei)的高質(zhi)量測(ce)試,提供全面解決手段。

掃描精(jing)度(du)高,幅(fu)度(du)測量精(jing)度(du)高  

       儀器(qi)在整個掃描(miao)范圍內采用連續鎖相合成(cheng)技術,達到1Hz的(de)高掃描(miao)精度。提(ti)高生(sheng)產效率并減小(xiao)測(ce)試容限(xian)。幅度修(xiu)正系數由儀器(qi)自(zi)動(dong)校(xiao)準功(gong)能(neng)完成(cheng),能(neng)維持高的(de)測(ce)量精確度。

多重數字化掃(sao)描處理,測量速度(du)快  

       儀器(qi)采(cai)用(yong)全數(shu)字中頻技(ji)術實(shi)現10Hz到3MHz的(de)分(fen)辨帶寬(kuan),能夠更好適應不同(tong)的(de)測量(liang)任務,并可在快速的(de)同(tong)時保證(zheng)很高(gao)的(de)頻率分(fen)辨率,捕捉瞬態干擾信號。

大動態范圍、高功率精度(du)的(de)射頻信號輸出 

       5253A通(tong)信綜合測試儀通(tong)過內置程控步進衰減器,可(ke)滿足多(duo)數情況下通(tong)信信號的測試要(yao)求。

內置多(duo)種數字調制(zhi)格式(shi)

內置(zhi)BPSK、QPSK、OQPSK、8PSK、16QAM、32QAM、64QAM、MSK、2FSK數(shu)字調(diao)制格式,碼元速率1kHz~5MHz,為您(nin)進(jin)行高(gao)質量數(shu)字通(tong)信(xin)信(xin)號發(fa)生提供了全面的解(jie)決手(shou)段。

內(nei)置(zhi)多種(zhong)標(biao)準制式通信信號發生功(gong)能

內置GSM /TD-SCDMA等標準制(zhi)式信號(hao)發生功能(neng),為您(nin)進(jin)行移動通(tong)信設備高質量測試提供全面(mian)的解決手段。

符(fu)合人類工程學的用(yong)戶(hu)接口  

       具(ju)有(you)友好的(de)(de)操(cao)作(zuo)界面(mian),*可(ke)(ke)以由(you)菜單指導(dao)您的(de)(de)操(cao)作(zuo).即使沒有(you)經過(guo)培訓用戶也會迅速地掌握(wo)儀器操(cao)作(zuo)。清晰的(de)(de)結構可(ke)(ke)以使菜單內的(de)(de)導(dao)向得到簡化。高對比度的(de)(de)彩色顯示(shi)屏,即使在(zai)臨(lin)時(shi)場地或光(guang)線入射不佳時(shi)都可(ke)(ke)以進行軌(gui)跡判讀。

整機小巧輕(qing)便,性能價格(ge)比(bi)高(gao)  

       本(ben)儀器重量僅為16Kg,是一款具有(you)矢量信號(hao)分(fen)析和矢量信號(hao)(hao)發(fa)生(sheng)的(de)綜合測試儀(yi)器(qi)。該設(she)備能(neng)夠以低(di)廉的(de)價(jia)格(ge)提(ti)供高(gao)質量的(de)測試,與市場上(shang)任(ren)意一(yi)款同水平的(de)矢量信號(hao)(hao)分(fen)析儀(yi)或矢量信號(hao)(hao)發(fa)生(sheng)器(qi)相比,具有更高(gao)的(de)性能(neng)價(jia)格(ge)比。

典型應用

      芯片(pian)研發(fa)和終端生(sheng)產非(fei)信令測試

可(ke)廣泛應用于(yu)GSM、TD-SCDMA等(deng)標(biao)準芯片研發和終(zhong)端的設計(ji)、研發、生產、認證及維修(xiu)等(deng)領域的非信(xin)令(ling)測(ce)試。

支持(chi)終端輸(shu)出(chu)功(gong)(gong)率測(ce)量,當(dang)測(ce)試次數不少于(yu)2次的(de)條(tiao)件下,最大、最小、平均(jun)功(gong)(gong)率的(de)統計值(zhi)將會顯(xian)示(shi)(shi);支持(chi)終端調制(zhi)域分(fen)析測(ce)量,可(ke)同時(shi)測(ce)試和(he)顯(xian)示(shi)(shi)調制(zhi)頻率、頻率誤(wu)(wu)差(cha)(cha)、相(xiang)位誤(wu)(wu)差(cha)(cha)及峰值(zhi)誤(wu)(wu)差(cha)(cha);支持(chi)占用頻帶(dai)帶(dai)寬(kuan)測(ce)量和(he)鄰道功(gong)(gong)率測(ce)量;支持(chi)頻譜波形顯(xian)示(shi)(shi),監視(shi)頻譜是(shi)否超(chao)過規(gui)定的(de)限值(zhi)等(deng)。 

快速自動化測試 

5253A通信綜合測(ce)試儀可在射頻無線通信用(yong)頻段9kHz~3GHz的范圍內,完成通信矢量(liang)信號分(fen)析(xi)及功率(lv)、頻率(lv)和調(diao)制等(deng)性能(neng)測(ce)試,標(biao)準的GPIB、USB、TCP/IP等(deng)接口能(neng)對各種不同(tong)設備進(jin)行(xing)快(kuai)速自動(dong)測(ce)試。本產品分(fen)析(xi)功能(neng)全(quan)面,價(jia)格低廉,非常適合高校教學試驗。

 

對捕捉信號進行多(duo)域分析 

5253A通信綜合(he)測試儀支持BPSK、QPSK、OQPSK、8PSK、MSK、FSK、16QAM、32QAM、64QAM多種調制格式以及各種制式信號的解(jie)調分(fen)(fen)析,可以對(dui)EVM、IQ imbalance、phase error、magnitude error、frequency error等調制指標進(jin)行分(fen)(fen)析,提(ti)供分(fen)(fen)析數值(zhi)并用圖形顯示。

測量(liang)RF頻譜(幅度、頻率) 

由于(yu)最(zui)大(da)輸入(ru)信號功率為+30dBm,大(da)多數情(qing)況下被測信號可(ke)直接從儀器輸入(ru)端口輸入(ru)。可(ke)通過設置合適的參考電平、中心頻率、掃描(miao)寬度、分辨率帶寬,讓信號處于(yu)zui佳測試狀態。能直觀看到被測信(xin)號的頻率、幅度。

分辨(bian)相距很近信號 

利用全數字中頻技術(shu)實現更高(gao)的(de)(de)分辨率(lv),來區(qu)分和測量緊靠在一起的(de)(de)信號,其狹窄的(de)(de)波形因(yin)數(4:1)有助(zhu)于(yu)測量與載波接近的(de)(de)信號。同時還提高(gao)了靈(ling)敏(min)度。

本(ben)振(zhen)替代功能

5253A通信綜(zong)合測試儀可在射頻無(wu)線通信頻段250kHz~3GHz的范圍內,完成(cheng)發射機、接收機的本振替(ti)代,方便研發和(he)生產測試,另外還能通過標準的GPIB、USB、TCP/IP等接口由計(ji)算機控制進行快速自(zi)動測試。

射頻特(te)性測試

5253A通(tong)信(xin)綜合測(ce)(ce)試(shi)儀可(ke)對放(fang)大器(qi)(qi)、混(hun)頻(pin)器(qi)(qi)、接收(shou)機的交調失真進行測(ce)(ce)試(shi),和頻(pin)譜(pu)分析儀配合,可(ke)以完成(cheng)對天線、放(fang)大器(qi)(qi)和衰減器(qi)(qi)等(deng)設備(bei)的帶寬、頻(pin)響、增益等(deng)射頻(pin)特性測(ce)(ce)試(shi)。

 

 

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