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6362C光譜分析儀

簡要描述:

產品綜述
6362C光(guang)譜(pu)分(fen)析儀采用先進(jin)的雙通(tong)光(guang)柵分(fen)光(guang)單元、高分(fen)辨率衍射光(guang)柵定位、光(guang)學楔形延遲(chi)消偏(pian)振(zhen)、小信(xin)號和寬波段光(guang)譜(pu)檢(jian)測(ce)等技術研(yan)制而成。整機性能指標達到同類產品(pin)先進(jin)水平。適用于600~1700nm波段范圍的LED、LD、SLD、DFB-LD、EDFA、光(guang)纖(xian)、光(guang)纖(xian)光(guang)柵、光(guang)學濾波器、光(guang)纖(xian)放大器、波分(fen)復用器等光(guang)電子元器件及(ji)有(you)關系統的測(ce)試。

更新時(shi)間:2018-11-06

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6362C光譜分析儀

產品綜述

6362C光(guang)(guang)(guang)譜分(fen)(fen)析儀采用(yong)先進(jin)的(de)雙通光(guang)(guang)(guang)柵分(fen)(fen)光(guang)(guang)(guang)單元、高(gao)分(fen)(fen)辨率(lv)衍(yan)射(she)光(guang)(guang)(guang)柵定(ding)位、光(guang)(guang)(guang)學楔形延遲(chi)消偏振、小信號和寬波(bo)(bo)段(duan)(duan)光(guang)(guang)(guang)譜檢測(ce)等(deng)技術研制而(er)成。整(zheng)機性能指(zhi)標達到(dao)國際(ji)同類產(chan)品先進(jin)水平(ping)。適(shi)用(yong)于(yu)600~1700nm波(bo)(bo)段(duan)(duan)范(fan)圍的(de)LED、LD、SLD、DFB-LD、EDFA、光(guang)(guang)(guang)纖、光(guang)(guang)(guang)纖光(guang)(guang)(guang)柵、光(guang)(guang)(guang)學濾波(bo)(bo)器(qi)、光(guang)(guang)(guang)纖放大器(qi)、波(bo)(bo)分(fen)(fen)復用(yong)器(qi)等(deng)光(guang)(guang)(guang)電(dian)子元器(qi)件(jian)及有(you)關(guan)系統的(de)測(ce)試。

功能特點

主要特(te)點

● 0.05nm最小分(fen)辨(bian)帶寬(kuan)

● -90 dBm電平(ping)測量(liang)靈敏(min)度(du) 

● ndB損(sun)耗(hao)分析

● 包絡分析

● 測(ce)試數據存儲輸出

● 激(ji)光光源測試

● 光學(xue)濾波器測試

 

0.05nm最小(xiao)分辨帶寬

    6362C光(guang)譜(pu)分析(xi)儀(yi)支持不同(tong)光(guang)譜(pu)分辨(bian)帶(dai)寬(kuan)的設置(zhi),寬(kuan)譜(pu)光(guang)源(yuan)與窄譜(pu)線光(guang)源(yuan)測試(shi)靈活切換。并且最(zui)小分辨(bian)帶(dai)寬(kuan)可達0.05nm。

-90 dBm電(dian)平測(ce)量(liang)靈敏度 

通(tong)過低噪(zao)聲(sheng)(sheng)放大、雜散光抑(yi)制、數字濾(lv)波等技術,極(ji)大地降(jiang)低了(le)儀器噪(zao)聲(sheng)(sheng),提高了(le)信噪(zao)比,電平測量靈敏度(du)在(zai)1250nm~1600nm波段(duan)優于(yu)-90dBm。

ndB損(sun)耗分析

產品具有強大的分(fen)(fen)析(xi)功(gong)能,快(kuai)速分(fen)(fen)析(xi)光譜參數,儀(yi)器自身就(jiu)能完成復雜的計算。分(fen)(fen)析(xi)功(gong)能包括波峰檢索、閾值分(fen)(fen)析(xi)、損耗分(fen)(fen)析(xi)、邊模分(fen)(fen)析(xi)、包絡分(fen)(fen)析(xi)、均方根和光功(gong)率分(fen)(fen)析(xi)等,滿足您(nin)的全部需求。

包絡分析測試數據存儲輸(shu)出

光譜測(ce)試數(shu)據可用.bmp或.osd格式文件存儲和(he)輸出。

激光光源測試

儀器可以對多類型激光器進行一鍵測(ce)試與分析,實現(xian)所有測(ce)試項目批(pi)處理。

光學濾波(bo)器測試

除了半導體激光(guang)光(guang)源(DFB-LD、FP-LD、LED)光(guang)譜測量應用(yong)(yong)外(wai),儀(yi)器(qi)還(huan)集成了光(guang)纖偏振(zhen)模色散測量應用(yong)(yong)、波(bo)分復用(yong)(yong)應用(yong)(yong)、光(guang)纖放大器(qi)應用(yong)(yong)、LD模塊應用(yong)(yong)、波(bo)分復用(yong)(yong)濾波(bo)器(qi)應用(yong)(yong)、波(bo)分復用(yong)(yong)光(guang)纖放大器(qi)應用(yong)(yong)等(deng)光(guang)譜應用(yong)(yong)功能。

典(dian)型應用(yong)

LED、SLD、ASE、FP-LD、DFB-LD光譜波形分析

 

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