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TH2638電容測量儀該儀器(qi)測(ce)量電容基本精度(du)為±0.07%，損耗精度(du)高達(da)(da)0.0005，測(ce)試頻率(lv)zui高可(ke)達(da)(da)1MHz，4.3寸的(de)LCD屏幕可(ke)選(xuan)中英文(wen)操作(zuo)界(jie)面(mian)，操作(zuo)方便快(kuai)捷。
更新(xin)時(shi)間：2018-07-18
TH2638電容測量(liang)儀
簡要介紹
■ TH2638系列高速精密電(dian)(dian)容(rong)測(ce)量(liang)儀是具(ju)有更(geng)高測(ce)試頻(pin)率(lv)的(de)新型數字電(dian)(dian)容(rong)測(ce)量(liang)儀器，其體積小，緊湊便攜，便于上架使用。該儀器測(ce)量(liang)電(dian)(dian)容(rong)基(ji)本精度(du)為±0.07%，損耗(hao)精度(du)高達0.0005，測(ce)試頻(pin)率(lv)zui高可(ke)(ke)(ke)達(da)1MHz，4.3寸的(de)(de)(de)(de)LCD屏幕(mu)可(ke)(ke)(ke)選(xuan)中英文操(cao)作界面，操(cao)作方便快捷。TH2638系(xi)列可(ke)(ke)(ke)以為陶瓷電容(rong)器(qi)生產測(ce)試提供高速、可(ke)(ke)(ke)靠的(de)(de)(de)(de)測(ce)量(liang)(liang)。該儀器(qi)能夠精確(que)測(ce)量(liang)(liang)從(cong)低值到高值的(de)(de)(de)(de)各類電容(rong)。在對同一個電容(rong)器(qi)進行(xing)(xing)多次測(ce)量(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)結果*性(xing)好，即使是(shi)很(hen)低的(de)(de)(de)(de)電容(rong)值也可(ke)(ke)(ke)以很(hen)精確(que)地測(ce)量(liang)(liang)出(chu)來。該儀器(qi)兼容(rong)SCPI命令(ling)集(ji)，帶有機械(xie)手接(jie)口(kou)和掃(sao)描器(qi)接(jie)口(kou)，掃(sao)描接(jie)口(kou)可(ke)(ke)(ke)逐個的(de)(de)(de)(de)對各個測(ce)試通道到開路(lu)(lu)/短路(lu)(lu)/負載誤差校(xiao)正(zheng)進行(xing)(xing)掃(sao)描，zui多可以(yi)掃描256個通道。在低頻測量時，當被測件(jian)阻(zu)抗很小時，信號源內(nei)阻(zu)和測試線(xian)纜將會引(yin)起被測件(jian)兩端的電(dian)壓低于設定(ding)電(dian)壓范(fan)圍(wei)，使用(yong)儀器(qi)的信號電(dian)平補(bu)償功能就會調(diao)整被測件(jian)上的電(dian)平到(dao)設定(ding)值(zhi)范(fan)圍(wei)內(nei)。
TH2638系列特別(bie)針對生產線測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)上增加(jia)(jia)了對不(bu)良(liang)接觸的檢(jian)查功(gong)能(neng)(neng)，測(ce)(ce)量(liang)時(shi)無需額外的時(shi)間來執行(xing)(xing)此操作就能(neng)(neng)夠檢(jian)測(ce)(ce)到被測(ce)(ce)器(qi)件與(yu)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)儀(yi)(yi)器(qi)之(zhi)間可(ke)能(neng)(neng)出現的不(bu)良(liang)接觸；儀(yi)(yi)器(qi)具有在實(shi)際測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)保持同(tong)步的信(xin)號源功(gong)能(neng)(neng)，只在進行(xing)(xing)真正(zheng)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)的時(shi)候才把(ba)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)信(xin)號施(shi)加(jia)(jia)到被測(ce)(ce)器(qi)件上，在放置(zhi)和取下(xia)被測(ce)(ce)器(qi)件的瞬間不(bu)會給被測(ce)(ce)器(qi)件施(shi)加(jia)(jia)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)信(xin)號，這樣就顯(xian)著的降(jiang)低(di)(di)了在接觸不(bu)良(liang)的情況(kuang)下(xia)較大(da)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)電流對測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)夾具或觸點的蝕(shi)損；當(dang)前測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)頻率(lv)為1MHz時(shi)，可(ke)對測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)頻率(lv)進行(xing)(xing)偏移設置(zhi)（偏移值為±1%，±2%）這一功(gong)能(neng)(neng)在陣列式電容(rong)器(qi)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)系統中可(ke)消除相(xiang)鄰測(ce)(ce)量(liang)終(zhong)端(duan)受到干擾，還可(ke)以降(jiang)低(di)(di)測(ce)(ce)量(liang)結果的波動(dong)。儀(yi)(yi)器(qi)還帶(dai)有料箱(xiang)(xiang)分類功(gong)能(neng)(neng)，可(ke)以按(an)照(zhao)產品(pin)的質量(liang)設置(zhi)9個料箱(xiang)(xiang)根(gen)據(ju)C-D/Q/R/G的測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)結果確定產品(pin)合(he)格與(yu)不(bu)合(he)格，并放入不(bu)同(tong)等(deng)級到料箱(xiang)(xiang)內。
性(xing)能特(te)點
■ *替代AgilentE4981A
■ 4.3寸TFT液晶顯示,中英(ying)文可選操作(zuo)界面
■ zui高1MHz的測試(shi)(shi)頻(pin)(pin)率(lv)(100Hz，120Hz，1kHz，10kHz，100kHz，1MHz),增(zeng)加了100Hz,10kHz 和100kHz四點頻(pin)(pin)率(lv)，可對薄膜電(dian)(dian)容(rong)、電(dian)(dian)解電(dian)(dian)容(rong)、電(dian)(dian)力電(dian)(dian)容(rong)在該頻(pin)(pin)率(lv)下(xia)進行高速測試(shi)(shi)更(geng)方便地(di)進行該頻(pin)(pin)率(lv)下(xia)串聯等效(xiao)電(dian)(dian)阻ESR的測試(shi)(shi),這點是同惠*的
■ zui高測試速度(du)：2.3ms/次,并有五(wu)檔速度(du)選(xuan)擇
■ 測試(shi)電容基本精度±0.07%
■ 損耗因(yin)數：±0.0005
■ V、I 測試信號電(dian)平(ping)監視(shi)功能(neng)
■ 低阻抗測試(shi)，信號電平(ping)補償(chang)功能
■ 內建比較器，11檔分(fen)選
■ 內部文件存(cun)儲和外部U盤文件保(bao)存(cun)
■ 測量數據可(ke)直接(jie)保存(cun)到U盤(pan)
■ 截(jie)屏保存到U盤
■ 兼容SCPI命令集(ji)
■ RS232C、USB CDC、LAN、GPIB接口
■ HANDLER接口、SCANNER接口、機械(xie)手接口
■ 接觸檢查功能
■ 同(tong)步信號源(yuan)
■ 1MHz時的測試頻率帶有偏移功能（±1%，±2%）
■ 10點列表掃描，可對頻(pin)率、電(dian)壓進(jin)行(xing)掃描
技術參數
型號(hao) | TH2638 | |
測試信號參數 | Cp-D, Cp-Q, Cp-Rp, Cp-G, Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs | |
測試信號 | ||
頻率
| 允許(xu)頻率 | 100Hz,120Hz, 1kHz,10kHz,100kHz,1MHz,1MHz±1%,1MHz±;2% |
精(jing)度 | ±0.02% | |
| 范(fan)圍(wei) | 0.1V-1V |
電(dian)平 | 分辨率(lv) | 0.01V |
| 精度 | ±5% |
輸出方式(shi) | 連續或同步(bu) | |
信(xin)號源延時 | 范圍 | 0-1s |
分辨(bian)率 | 0.1ms | |
信號電平補償 | 100/120Hz | 220μF, 470μF, 1mF量程(cheng) |
1kHz | 22μF, 47μF, 100μF量程 | |
|
| SLC OFF ( ≥ 220μF 量程) 1.5 Ω |
| 100 Hz | SLC ON ( ≥ 220μF 量程(cheng)) 0.3 Ω |
| 120Hz | 2.2μF - 100μF 量(liang)程 0.3 Ω |
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| 10 nF - 1μF 量程 10 Ω |
輸出阻抗 |
| SLC OFF ( ≥ 22μF 量程) 1.5 Ω |
| 1kHz | SLC ON ( ≥ 22μF 量程) 0.3 Ω |
|
| 220 nF - 10μF 量程 0.3 Ω |
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| 100 pF - 100 nF 量程 10 Ω |
| 10kHz/100kHz | 10 Ω |
| 1MHz | 10 Ω |
測試速度(du) | 五檔測試速度選擇(ze)：1，2，4，6，8 | |
| 100/120Hz | 11ms |
zui快測量(liang)速度 | 1kHz | 3ms |
| 10k/100kHz | 2.3ms |
| 1MHz | 2.3ms |
測試量程方式 | 自動、保(bao)持 | |
| 100Hz/120Hz | 10 nF, 22 nF, 47 nF, 100 nF, 220 nF, 470 nF, 1μF, 2.2μF, 4.7μF, 10μF, 22μF, |
| 47μF, 100μF, 220μF, 470μF, 1 mF | |
| 1k Hz | 100 pF, 220 pF, 470 pF, 1 Nf, 2.2 nF, 4.7 nF, 10 nF, 22 nF，47 nF, 100 nF, |
| 220 nF ,470 nF，1μF, 2.2μF, 4.7μF, 10μF，22μF, 47μF, 100μF | |
測試信號頻率量程 | 10k Hz | 100 pF , 220 pF, 470 pF, 1 nF，2.2 nF, 4.7 nF, 10 nF, 22 nF，47 nF, 100 nF, |
| 220 nF , 470 nF，1μF, 2.2μF , 4.7μF, 10μF | |
| 100k Hz | 10 pF, 22 pF, 47 pF, 100 pF, 220 pF , 470 pF, 1 nF，2.2 nF, 4.7 nF, 10 nF, |
| 22 nF，47 nF, 100 nF | |
| 1MHz | 1 pF, 2.2 pF, 4.7 pF, 10 pF, 22 pF, |
平(ping)均次(ci)數 | 1 - 256 | |
觸發方式 | 內部(bu)，手動，外(wai)部(bu)，總線(xian)（除GPIB） | |
觸發延時時間(jian) | 范圍 | 0 - 1s |
分辨率 | 0.1ms | |
測量顯(xian)示范圍 | ||
| Cs , Cp | ±1.000000 aF to 999.9999 EF |
| D | ±0.000001 to 9.999999 |
參數( a : 1x10-18,E:1x1018 ) | Q | ±0.01 to 99999.99 |
| Rs, Rp | ±1.000000 aΩ to 999.9999 EΩ |
| G | ±1.000000 aS to 999.9999 ES |
| Δ% | ±0.0001 % to 999.9999 % |
基(ji)本測量準確度 | C:0.07%, D:0.0005 | |
顯示(shi)方式 | 浮動/固(gu)定小(xiao)數(shu)點顯(xian)示(shi)、ΔABS、Δ% | |
列表掃(sao)描 | 10點列表掃描，可(ke)對頻(pin)率、電壓進行掃描 | |
比較器功(gong)能(neng) | 11檔 BIN1-BIN9、OUT_OF_BIN、AUX_BIN | |
接口 | RS232C, LAN, USB CDC, HANDLER | |
內部存儲(chu) | 40個(ge)儀器設定文件 | |
| GIF圖(tu)像 | |
外部(bu)USB存儲 | 40個儀(yi)器設(she)定(ding)文件 測(ce)試數據USB存(cun)儲器直(zhi)接存(cun)儲 截屏(ping)文件直(zhi)接保存(cun)USB存(cun)儲器 | |
一(yi)般技術指(zhi)標 | ||
溫度(du)、濕(shi)度(du)、海(hai)拔（操(cao)作環(huan)境） | 0 ℃ - 45 ℃，15% - 85% RH (≤40℃，無(wu)冷凝)，0 - 2000m | |
| 電壓 | 90VAC - 264VAC |
供電電源(yuan) | 頻率 | 47Hz - 63Hz |
| 功耗 | zui大(da)150VA |
溫(wen)度、濕(shi)度、海拔（存儲(chu)環境） | -20 ℃ - 70 ℃，0 - 90% RH (≤65℃，無冷凝)，0 - 4572m | |
注：1MHz時包(bao)含 1MHz±1%，1MHz±2% a: 1 x 10 -18, E: 1 x 10 的(de)18次方
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