TEGAM R1L-D1高分辨率微歐計,R1L-D1微歐計,TEGAM R1L-D1便攜式微歐計具有以下特點：TEGAM R1L-D1高分辨率微歐計經久耐用：MIL PRF2880F 3級便攜：長時間待機充電電池（140 小時）量程: 200 mΩ 至 2 kΩ （自動和手動）高精度: 讀數的0.05%分辨率: 1 µΩ2, 3 和 4-線測量偏置補償
更新時間：2018-06-12
TEGAM R1L-D1高分辨(bian)率微(wei)歐計,R1L-D1微歐計,TEGAM R1L-D1便攜式微(wei)歐計具有以下特點：
TEGAM R1L-D1高分辨率微歐計經久耐用(yong)：MIL PRF2880F 3級(ji)
便(bian)攜：長時間待機充電(dian)電(dian)池(140 小時)
量程: 200 mΩ 至(zhi) 2 kΩ (自(zi)動和手動)
高(gao)精度: 讀數的0.05%
分辨率: 1 µΩ
2, 3 和 4-線測量
偏(pian)置補償
背(bei)光顯示屏TEGAM R1L-D1zui適(shi)用于100和1000 Ω 的(de)三和四(si)線(xian)RTD測試，并利用四(si)線(xian)技(ji)術減(jian)少連接阻抗帶來的(de)誤差。TEGAM R1L-D1型儀(yi)(yi)器(qi)在(zai)測試(shi)中計算出(chu)阻(zu)值并(bing)在(zai)LCD顯(xian)示(shi)器(qi)上顯(xian)示(shi)出(chu)來。TEGAM R1L-D1也支持三線(xian)(xian)和兩(liang)線(xian)(xian) 測量。為了保證儀(yi)(yi)器(qi)的準(zhun)確度，在(zai)每(mei)次測試(shi)電阻(zu)之前儀(yi)(yi)器(qi)使用自動歸(gui)零電路來關(guan)閉測試(shi)電流(liu)并(bing)將儀(yi)(yi)器(qi)重(zhong)新設零。此電路還(huan)可以將測試(shi)中引線(xian)(xian)和被(bei)測電阻(zu)產生(sheng)的熱電動勢歸(gui)零。
微歐計(ji)型(xing)號(hao) | |
描述 | 高(gao)精密(mi)便攜(xie)微歐計 |
量程 | 200mΩ-2KΩ，5檔 |
zui小分辨率(lv) | 1μΩ |
zui高精度(du) | 0.05% |
位數 | 5 1/2 |
測試電(dian)流 | 500μA-50mA |
程控(kong)操作(zuo) | NO |
電池供電操作 | YES |
電池類型/工作時間(jian) | 可充放鎳(nie)鉻電池/140小(xiao)時 |
便(bian)攜防爆箱(xiang) | 有 |
標配(pei)測(ce)試(shi)表筆 | 四(si)線(xian)測試夾子 |
選配測試表筆(bi) | 四線測試(shi)夾子 |
主要應用 | 長(chang)導線(xian)的低(di)電阻(zu)測試 |
主要(yao)特點 | 極低測(ce)試 |
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